ZEISS Xradia Context es un sistema de microtomografía computarizada de rayos X 3D no destructivo de gran campo de visión. Con una platina robusta y un posicionamiento de fuente/detector flexible controlado por software, puede obtener imágenes de muestras grandes, pesadas (25 kg) y altas en su contexto 3D completo, así como muestras pequeñas con alta resolución y detalle.
· Obtenga datos en 3D de componentes electrónicos intactos completos, grandes muestras de materias primas o especímenes biológicos.
· Realice análisis de fallas no destructivos para identificar defectos internos sin cortar su muestra o pieza de trabajo.
· Caracterice y cuantifique las heterogeneidades que definen el rendimiento en sus materiales, como porosidad, grietas, inclusiones, defectos o fases múltiples.
· Monte y alinee sus muestras rápidamente o amplíe su sistema con un cargador automático opcional para el manejo automatizado y el escaneo secuencial de hasta 14 muestras.
