ZEISS Xradia 600 Series Versa puede caracterizar de forma no destructiva la microestructura 3D de los materiales bajo perturbaciones controladas (in situ), y observar la evolución de las estructuras en el tiempo (4D). Mientras que la tomografía tradicional se basa en un aumento geométrico de una sola etapa, Xradia Versa presenta una combinación de óptica de aumento de dos etapas única y una fuente de rayos X de alto flujo para producir imágenes de resolución más rápida a escala submicrónica. La arquitectura de resolución a distancia (RaaD) permite obtener imágenes 3D de alta resolución de objetos más grandes y densos, incluidos componentes y dispositivos intactos. La extensión plana opcional (FPX) permite escanear rápidamente muestras muy grandes (hasta 25 kg), permitiendo la navegación hacia las regiones interiores de interés.

‍