SKU EM-ZEISSCTX-20
por Zeiss
Xradia context microCT
Solución de microtomografía computarizada con campo amplio y alta resolución. El XRADIA Context microCT permite realizar análisis 3D no destructivos de estructuras internas en materiales, dispositivos o componentes industriales. Flujo de trabajo eficiente desde el laboratorio hasta el control de calidad.
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