SKU EM-ZEISSCTX-05
por Zeiss
Metrotom 1500
Sistema de tomografía computarizada industrial de alta resolución para inspección interna y medición 3D precisa. El ZEISS METROTOM 1500 permite detectar defectos, grietas y desviaciones dimensionales sin destruir la pieza, incluso en componentes grandes y densos. Ideal para laboratorios de calidad exigentes.
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